無論你是 IC 設計新手，還是資深 RTL Synthesis 工程師，深入掌握設計可測試性（DFT）關鍵技術，是提升芯片可靠性的必經之路。 
1、為什麼 DFT 在現代 IC 中變得不可或缺 

提升可控性與可觀測性：通過在設計中嵌入測試結構，內部節點的狀態能被有效控制與觀察，從而支持故障定位與調試。
縮短測試時間、降低成本：採用 scan chain、大規模並行測試、BIST 和 MBIST 等先進技術，能顯著縮短測試流程並減少昂貴 ATE 的依賴。 
2、關鍵 DFT 技術一覽
I. Scan Chain（掃描鏈）
將所有寄存器（Flip-Flop）串聯成可切換的掃描鏈，支持在測試模式下 shift-in test vectors、shift-out 結果，從而提升測試覆蓋率與測試效率。 
II. Built-In Self-Test（BIST）
將測試生成與響應解析邏輯內建於芯片內部，實現自動CPU級別測試，尤其擅長 at-speed 測試，適用於邏輯與控制器的自檢。 
III. Memory BIST（MBIST）
專門針對片上嵌入式存儲器的測試機制，通過在設計階段插入自動化測試結構，大幅提升內存測試覆蓋與開發效率。 
IV. 分層 DFT（Hierarchical DFT）
將複雜 SoC 設計劃分為多個 DFT 可控模塊，各模塊獨立測試、最後集成，有助於提升測試效能並縮短集成測試時間。 
V. 低功耗下的 DFT（Low-Power DFT）
在測試中考慮功耗限制，採用動態功率管理策略，避免測試過程中過高功耗導致電源壓力，同時捕獲電源相關故障。 
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