高精度低頻模擬前端設計方案
從傳感器到 24 位 ADC 的完整鏈路優化
一、引言
在醫療成像設備中,系統常需要對温度、壓力等低頻緩變傳感信號進行高精度採集,例如:
- 探頭温度監控
- 冷卻系統壓力監測
- 環境狀態監控
這類信號通常具有如下特點:
- 幅度微弱:微伏~毫伏級
- 頻帶極窄:DC~幾十 Hz
- 極易受干擾:工頻、電源紋波、數字噪聲、地迴流等
要在這些場景下真正發揮 24 位 Δ-Σ ADC 的有效分辨率(ENOB)與動態範圍,模擬前端(AFE)必須在傳感器接口、前置放大、濾波/抗混疊、採樣保持、ADC 架構選擇等環節系統性優化,並同步抑制:
- 器件失配
- 熱噪聲
- 1/f 噪聲
- 失調及漂移
- 電源紋波耦合
- 諧波失真與非線性
本文基於標準 CMOS 工藝可實現的關鍵模塊(零漂/斬波 INA、Σ-Δ ADC 等),從完整信號鏈構建一套可工程化落地的高精度低頻 AFE 方案。重點面向醫療成像中的温度/壓力測量,也對 ECG/EEG 等生物電前端具有高度參考價值。
二、系統架構與設計目標
典型高精度低頻信號鏈如下:
傳感器 → 儀表放大器(INA) → 低通/抗混疊濾波 → ADC(Σ-Δ 或 SAR) → 數字處理
2.1 設計目標
- 高精度與低噪聲
-
目標:在 24 位 ADC 下獲得儘可能高的 ENOB
- 例如 ≥ 19~20 位噪聲自由分辨率
- 輸入換算噪聲逼近 nV 級
- 重點抑制低頻 1/f 噪聲與諧波失真
- CMOS 工藝適配
-
所有模塊可用標準 CMOS 工藝集成
- 斬波/自穩零放大器、Σ-Δ ADC、片上電阻網絡等
- 充分考慮器件匹配、温漂與可集成的自校準機制
- 低頻性能與工頻抑制
- 關注 DC~幾百 Hz 的低頻信號
-
在極低輸出速率(如 20 SPS)下仍實現:
- 50/60 Hz 干擾抑制 > 100 dB
- 完整傳感器接口能力
- 支持電橋式壓力、熱電偶、RTD(Pt100)等
- 提供激勵、恆流源、比率測量、冷端補償等能力
- 誤差源抑制與長期穩定性
- 控制:電阻失配、熱噪聲、漂移、電源耦合
- 提升:CMRR、PSRR、温漂性能
- 滿足醫療設備長期運行與定標要求
下文沿信號鏈從前端到 ADC 逐級展開。
三、傳感器接口與前置放大設計
3.1 多類傳感器應用場景
1)電橋式壓力傳感器(應變計橋)
- 滿量程輸出僅數十 mV
- 需要精密恆壓/恆流激勵 + 差分測量
-
推薦比率測量(ratiometric)架構:
- 將橋路激勵電壓同時作為 ADC 參考
- 消除激勵源波動影響
2)熱電偶
- 温度範圍寬(-200~1300 ℃)
- 靈敏度低(K 型約 41 µV/℃)
- 輸出為 µV 級雙極差分信號
- 必須使用高增益 + 極低失調前置放大
-
冷端補償必需:
- 接線端佈置 RTD/集成温度傳感器
- 數字域補償熱電偶輸出
3)RTD 鉑電阻温度計(Pt100 等)
- 0 ℃ = 100 Ω,温度係數 ~0.385 Ω/℃
- 常用恆流源激勵測壓降,或組成橋路提高靈敏度
- 為消除恆流源誤差,可同步測 RTD 與參考電阻壓降
- 採用比率測量提升精度
4)生物電信號(ECG/EEG)
- µV 級差分、頻帶極窄
- 對噪聲和 CMRR 更苛刻
- 放大與抑制共模干擾的鏈路與温度/壓力前端高度相似
3.2 儀表放大器(INA)關鍵指標
前置放大推薦使用儀表放大器(INA),優勢在於:
- 高輸入阻抗
- 高差分增益
- 極高 CMRR
- 適合遠距/長線纜微弱信號採集並抑制共模干擾
(1)失調與漂移
- 微伏~毫伏級測量中,INA 輸入失調必須遠小於目標分辨率
-
首選零漂 INA(斬波/自穩零):
- 輸入失調 µV 級
- 温漂可低至幾十 nV/℃
- 將 1/f 噪聲與失調搬移至高頻再濾除
- 基帶噪聲近似白噪聲
(2)增益與帶寬
- 總增益常為 100~1000×
- 單級增益過高受限於 GBW 與相位裕度
-
工程中多采用內部多級結構 + 外圍小級微調
- 便於標定、偏置調整與濾波
(3)共模抑制比(CMRR)
- 醫療環境工頻/共模噪聲重
- 增益 ≥100 時,CMRR 目標 ≥100 dB
-
需要:
- 輸入網絡嚴格對稱
- PCB 差分走線完全對稱
- 減小寄生差異
(4)輸入保護與安全
- 需兼顧患者安全與器件保護
- 輸入端可加:限流電阻、ESD 二極管、TVS
- 高端方案可疊加隔離放大器/隔離 ADC
3.3 多級放大 vs. 單級高增益
表 1:前置放大架構對比
| 方案 | 優點 | 缺點 | 適用場景 |
|---|---|---|---|
| 多級放大 | 每級增益低、穩定性好;噪聲可分配優化;可級間濾波/偏置調整 | 元件多、功耗/面積上升;誤差累積;調試複雜 | 極高精度、總增益 >1000、需濾波/標定的高端醫療/儀器 |
| 單級高增益 | 結構簡單、鏈路短;匹配問題少;易集成、成本低 | 對 GBW/開環增益要求高;自身失調/噪聲一次性全放大 | 中等增益(≤100~200)、信號幅度較大、成本/功耗敏感 |
工程結論:多數高精度 AFE 採用
“零漂 INA + 次級微調/濾波級” 的多級結構,兼顧噪聲、CMRR 與標定餘量。
四、濾波器設計與採樣保持
4.1 抗混疊與帶寬控制
放大後的信號進 ADC 前必須低通限帶:
- 低頻有效帶寬通常 <100 Hz
-
模擬低通截止可設在 200~500 Hz
- 覆蓋有效變化
- 削弱 kHz 以上噪聲避免混疊
常用方案:
-
有源 Sallen-Key 二階低通
- 易調截止頻率與 Q
-
無源 RC 低通
- 簡單可靠
- 若 ADC 輸入高阻/帶緩衝即可滿足
工頻抑制:
- 優先利用 Σ-Δ ADC 內部數字濾波/陷波
- 模擬雙 T 陷波可作為補充但一般非首選
4.2 SAR ADC 的採樣保持與驅動
SAR ADC 採用開關電容採樣,採樣瞬間會拉取電荷導致:
- 前級輸出瞬態跌落
- 若驅動帶寬不足,採樣期間電壓未穩定 → 轉換誤差
典型處理:
- SAR 前加高速低失調緩衝運放(ADC Driver)
-
運放與 ADC 間串 數百 Ω + 數 nF:
- 一階抗混疊
- 限制充電電流
- 讓運放在採樣間隙恢復
RC 需滿足:
- RC 常數 ≫ 採樣尖峯寬度(濾尖峯)
- 但在採樣週期內完成 >99% 收斂
4.3 Σ-Δ ADC 的輸入特性
Σ-Δ ADC 前端更像連續時間積分器,對源阻抗不敏感,但需注意:
- PGA 高增益時等效輸入阻抗下降
- 源阻抗過大 → 增益誤差/失真
對策:
- 使能 ADC 內部緩衝(若有)
- 外加單位增益緩衝隔離 INA 與 ADC
4.4 濾波與動態響應權衡
-
若只關心緩慢均值:
- 多極低通 + 極低 SPS → 換取極低噪聲
-
若需更快穩定/複用採樣:
- 選巴特沃斯等平滑響應,避免振鈴
-
Σ-Δ ADC 有固有羣延遲:
- 可選高輸出速率/低延遲模式
- 或改用 SAR + 模擬濾波
五、ADC 架構選擇:Σ-Δ vs SAR
對低頻高精度採集,兩類架構最常見。
表 2:Σ-Δ ADC 與 SAR ADC 架構比較
| 指標 | Σ-Δ ADC | SAR ADC |
|---|---|---|
| 分辨率 / ENOB | 20~24 位,ENOB 18~21 位;適合微小信號與超高動態範圍 | 常見 16~18 位,ENOB 15~17 位;需過採樣/平均提升 |
| 採樣速率 | 低~中速(10 SPS~幾 ksps) | 中~高速(100 kSPS~MSPS) |
| 轉換延遲 | 有數字濾波延遲(多週期) | 幾乎無延遲 |
| 噪聲性能 | 過採樣 + 噪聲整形 → 極低輸入換算噪聲 | 量化噪聲受分辨率限制,需平均改善 |
| 線性與 THD | INL/DNL 幾 LSB;THD 依賴前端驅動 | 高端 SAR 可達 ±1 LSB;對採樣瞬態敏感 |
| 功耗 | 低速高精度下省電 | 隨速率線性上升,中高速效率高 |
| 集成度 | 常集成 PGA/MUX/基準/温度傳感/濾波 | 集成度較低,需外部放大/參考 |
| 典型應用 | 温度/壓力/稱重/醫療監護等低頻高精度 | DAQ/過程控制/多通道掃描/快速控制 |
結論:
-
温度/壓力等緩變量:
- 更新速率不高 → 優先 Σ-Δ ADC
-
需兼顧中高速控制/響應:
- 高分辨 SAR + 平均
- 或 Σ-Δ + SAR 混合架構
六、精度影響因素與系統級對策
高精度不能只看單器件,需要鏈路級控制誤差源。
6.1 電阻匹配與增益誤差
INA 增益強依賴電阻比值,不匹配會導致:
- 增益誤差
- CMRR 下降 → 共模泄漏
對策:
- 關鍵電阻做比值設計並芯片級修調
-
外部關鍵增益電阻用薄膜/箔電阻
- 0.01% 精度、±5 ppm/℃
- PCB 緊湊對稱擺放避免熱梯度漂移
6.2 熱噪聲與 1/f 噪聲
系統噪聲 = 白噪聲(熱噪聲)+ 閃爍噪聲(1/f)
降噪策略:
- 縮窄帶寬 B(熱噪聲 ~ √B)
- 選低噪聲運放(<10 nV/√Hz)
- 避免超大阻值電阻
-
對 1/f 主導低頻:
- 斬波/零漂技術最有效
- 0.1–10 Hz 噪聲可壓到幾十 nV
6.3 偏置誤差與温漂
- 輸入失調與偏置電流會引入 DC 誤差
- 零漂放大器消除大部分電壓漂移
-
偏置電流抑制:
- CMOS 輸入級(pA 級)
- 合理輸入阻抗
校準策略:
- 上電自校:短輸入/切內部參考測零點並扣除
- 温度自校:温度掃描做補償
- 高端 Σ-Δ ADC 可做背景校準
6.4 電源噪聲與隔離
電源紋波通過有限 PSRR 進入鏈路,低頻下更致命。
對策:
- 模擬/ADC 使用獨立低噪 LDO + RC/π 濾波
- 模擬/數字分區供電與佈線
- 星形接地 + 磁珠隔離
- 患者側/系統側必要時做電氣隔離
6.5 線性失真與工作範圍
- 放大器輸出避免逼近軌電壓
- ADC 工作在指定線性區
- 出廠多點標定可進一步消除殘餘 INL
6.6 温漂與長期穩定性
醫療設備需長期一致性:
- 低漂基準(≤5 ppm/℃)
- 年漂移小的 INA
- 長壽命薄膜/箔電阻
- PCB 避免應力集中與熱不對稱
- 軟件預留零點/增益再標定接口
目標:鏈路誤差降到與 ADC 分辨率同量級,使滿量程誤差可控到 0.1% 甚至 0.01%(視校準策略)。
七、推薦架構與應用小結
面向醫療成像中的温度/壓力等低頻高精度測量,推薦如下鏈路:
傳感器 → 零漂 INA(多級前端) → 模擬低通/抗混疊 → 24 位 Σ-Δ ADC(帶 PGA/數字濾波) → 數字補償
典型配置:
-
前端 INA
- 選零漂 INA
- 增益 100~500×
- 高 CMRR、低噪聲、低失調
-
濾波與工頻抑制
- INA 後一階/二階低通
- 截止設在數百 Hz
- 依賴 Σ-Δ 數字濾波實現 50/60 Hz 陷波與過採樣
-
24 位 Σ-Δ ADC
- 帶 PGA、MUX、基準、温度傳感
- SPS 設 10~50,優先噪聲性能
-
多通道實現:
- 橋輸出 + 激勵同步比率
- 熱電偶 + 冷端温度同步採集
在良好 PCB、電源與校準下,該方案可實現:
- 噪聲自由分辨率 19~20 位
- 温度分辨率 0.02 ℃ 甚至更優(取決於傳感器)
- 壓力/温度綜合誤差 ~0.1% 級
八、工程落地與擴展
8.1 傳感器專用微調
- 熱電偶:選帶冷端補償支持 ADC,簡化設計
- 電橋壓力:多通道同步採橋輸出與激勵做比率測量
- RTD:恆流源 + 比率測量 + 數字線性化 + 多點標定
8.2 PCB 與 EMC
- 模擬前端獨立地參考與屏蔽
- 傳感器差分輸入走線長度/路徑/環境完全對稱
- 高速數字線遠離模擬區,必要時用地帶隔離
8.3 軟件與系統校準
- 上電自動零點校準
- 標準源週期性重標定增益與非線性
- 温度/老化補償提高多年一致性
九、結語
通過對完整信號鏈進行系統級優化——從傳感器接口、電橋/恆流激勵、零漂 INA、多級濾波、採樣保持到 24 位 Σ-Δ ADC 的選擇與應用——可以在標準 CMOS 工藝平台上實現真正高精度的低頻模擬前端方案。
該方案不僅能為醫療成像設備提供精準穩定的温度與壓力信息,提升圖像質量與診斷可靠性,也對其他高精度低頻測量(精密儀器、工業變送器、重量/位移傳感等)具有良好參考價值。