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高精度低頻模擬前端設計方案:從傳感器到 24 位 ADC 的完整鏈路優化

高精度低頻模擬前端設計方案

從傳感器到 24 位 ADC 的完整鏈路優化


一、引言

在醫療成像設備中,系統常需要對温度、壓力等低頻緩變傳感信號進行高精度採集,例如:

  • 探頭温度監控
  • 冷卻系統壓力監測
  • 環境狀態監控

這類信號通常具有如下特點:

  • 幅度微弱:微伏~毫伏級
  • 頻帶極窄:DC~幾十 Hz
  • 極易受干擾:工頻、電源紋波、數字噪聲、地迴流等

要在這些場景下真正發揮 24 位 Δ-Σ ADC 的有效分辨率(ENOB)與動態範圍,模擬前端(AFE)必須在傳感器接口、前置放大、濾波/抗混疊、採樣保持、ADC 架構選擇等環節系統性優化,並同步抑制:

  • 器件失配
  • 熱噪聲
  • 1/f 噪聲
  • 失調及漂移
  • 電源紋波耦合
  • 諧波失真與非線性

本文基於標準 CMOS 工藝可實現的關鍵模塊(零漂/斬波 INA、Σ-Δ ADC 等),從完整信號鏈構建一套可工程化落地的高精度低頻 AFE 方案。重點面向醫療成像中的温度/壓力測量,也對 ECG/EEG 等生物電前端具有高度參考價值。


二、系統架構與設計目標

典型高精度低頻信號鏈如下:

傳感器 → 儀表放大器(INA) → 低通/抗混疊濾波 → ADC(Σ-Δ 或 SAR) → 數字處理

2.1 設計目標

  1. 高精度與低噪聲
  • 目標:在 24 位 ADC 下獲得儘可能高的 ENOB

    • 例如 ≥ 19~20 位噪聲自由分辨率
  • 輸入換算噪聲逼近 nV 級
  • 重點抑制低頻 1/f 噪聲與諧波失真
  1. CMOS 工藝適配
  • 所有模塊可用標準 CMOS 工藝集成

    • 斬波/自穩零放大器、Σ-Δ ADC、片上電阻網絡等
  • 充分考慮器件匹配、温漂與可集成的自校準機制
  1. 低頻性能與工頻抑制
  • 關注 DC~幾百 Hz 的低頻信號
  • 在極低輸出速率(如 20 SPS)下仍實現:

    • 50/60 Hz 干擾抑制 > 100 dB
  1. 完整傳感器接口能力
  • 支持電橋式壓力、熱電偶、RTD(Pt100)等
  • 提供激勵、恆流源、比率測量、冷端補償等能力
  1. 誤差源抑制與長期穩定性
  • 控制:電阻失配、熱噪聲、漂移、電源耦合
  • 提升:CMRR、PSRR、温漂性能
  • 滿足醫療設備長期運行與定標要求

下文沿信號鏈從前端到 ADC 逐級展開。


三、傳感器接口與前置放大設計

3.1 多類傳感器應用場景

1)電橋式壓力傳感器(應變計橋)

  • 滿量程輸出僅數十 mV
  • 需要精密恆壓/恆流激勵 + 差分測量
  • 推薦比率測量(ratiometric)架構

    • 將橋路激勵電壓同時作為 ADC 參考
    • 消除激勵源波動影響

2)熱電偶

  • 温度範圍寬(-200~1300 ℃)
  • 靈敏度低(K 型約 41 µV/℃)
  • 輸出為 µV 級雙極差分信號
  • 必須使用高增益 + 極低失調前置放大
  • 冷端補償必需

    • 接線端佈置 RTD/集成温度傳感器
    • 數字域補償熱電偶輸出

3)RTD 鉑電阻温度計(Pt100 等)

  • 0 ℃ = 100 Ω,温度係數 ~0.385 Ω/℃
  • 常用恆流源激勵測壓降,或組成橋路提高靈敏度
  • 為消除恆流源誤差,可同步測 RTD 與參考電阻壓降
  • 採用比率測量提升精度

4)生物電信號(ECG/EEG)

  • µV 級差分、頻帶極窄
  • 對噪聲和 CMRR 更苛刻
  • 放大與抑制共模干擾的鏈路與温度/壓力前端高度相似

3.2 儀表放大器(INA)關鍵指標

前置放大推薦使用儀表放大器(INA),優勢在於:

  • 高輸入阻抗
  • 高差分增益
  • 極高 CMRR
  • 適合遠距/長線纜微弱信號採集並抑制共模干擾
(1)失調與漂移
  • 微伏~毫伏級測量中,INA 輸入失調必須遠小於目標分辨率
  • 首選零漂 INA(斬波/自穩零)

    • 輸入失調 µV 級
    • 温漂可低至幾十 nV/℃
    • 將 1/f 噪聲與失調搬移至高頻再濾除
    • 基帶噪聲近似白噪聲
(2)增益與帶寬
  • 總增益常為 100~1000×
  • 單級增益過高受限於 GBW 與相位裕度
  • 工程中多采用內部多級結構 + 外圍小級微調

    • 便於標定、偏置調整與濾波
(3)共模抑制比(CMRR)
  • 醫療環境工頻/共模噪聲重
  • 增益 ≥100 時,CMRR 目標 ≥100 dB
  • 需要:

    • 輸入網絡嚴格對稱
    • PCB 差分走線完全對稱
    • 減小寄生差異
(4)輸入保護與安全
  • 需兼顧患者安全與器件保護
  • 輸入端可加:限流電阻、ESD 二極管、TVS
  • 高端方案可疊加隔離放大器/隔離 ADC

3.3 多級放大 vs. 單級高增益

表 1:前置放大架構對比

方案 優點 缺點 適用場景
多級放大 每級增益低、穩定性好;噪聲可分配優化;可級間濾波/偏置調整 元件多、功耗/面積上升;誤差累積;調試複雜 極高精度、總增益 >1000、需濾波/標定的高端醫療/儀器
單級高增益 結構簡單、鏈路短;匹配問題少;易集成、成本低 對 GBW/開環增益要求高;自身失調/噪聲一次性全放大 中等增益(≤100~200)、信號幅度較大、成本/功耗敏感

工程結論:多數高精度 AFE 採用
“零漂 INA + 次級微調/濾波級” 的多級結構,兼顧噪聲、CMRR 與標定餘量。


四、濾波器設計與採樣保持

4.1 抗混疊與帶寬控制

放大後的信號進 ADC 前必須低通限帶:

  • 低頻有效帶寬通常 <100 Hz
  • 模擬低通截止可設在 200~500 Hz

    • 覆蓋有效變化
    • 削弱 kHz 以上噪聲避免混疊

常用方案:

  • 有源 Sallen-Key 二階低通

    • 易調截止頻率與 Q
  • 無源 RC 低通

    • 簡單可靠
    • 若 ADC 輸入高阻/帶緩衝即可滿足

工頻抑制:

  • 優先利用 Σ-Δ ADC 內部數字濾波/陷波
  • 模擬雙 T 陷波可作為補充但一般非首選

4.2 SAR ADC 的採樣保持與驅動

SAR ADC 採用開關電容採樣,採樣瞬間會拉取電荷導致:

  • 前級輸出瞬態跌落
  • 若驅動帶寬不足,採樣期間電壓未穩定 → 轉換誤差

典型處理:

  1. SAR 前加高速低失調緩衝運放(ADC Driver)
  2. 運放與 ADC 間串 數百 Ω + 數 nF

    • 一階抗混疊
    • 限制充電電流
    • 讓運放在採樣間隙恢復

RC 需滿足:

  • RC 常數 ≫ 採樣尖峯寬度(濾尖峯)
  • 但在採樣週期內完成 >99% 收斂

4.3 Σ-Δ ADC 的輸入特性

Σ-Δ ADC 前端更像連續時間積分器,對源阻抗不敏感,但需注意:

  • PGA 高增益時等效輸入阻抗下降
  • 源阻抗過大 → 增益誤差/失真

對策:

  • 使能 ADC 內部緩衝(若有)
  • 外加單位增益緩衝隔離 INA 與 ADC

4.4 濾波與動態響應權衡

  • 若只關心緩慢均值:

    • 多極低通 + 極低 SPS → 換取極低噪聲
  • 若需更快穩定/複用採樣:

    • 選巴特沃斯等平滑響應,避免振鈴
  • Σ-Δ ADC 有固有羣延遲:

    • 可選高輸出速率/低延遲模式
    • 或改用 SAR + 模擬濾波

五、ADC 架構選擇:Σ-Δ vs SAR

對低頻高精度採集,兩類架構最常見。

表 2:Σ-Δ ADC 與 SAR ADC 架構比較

指標 Σ-Δ ADC SAR ADC
分辨率 / ENOB 20~24 位,ENOB 18~21 位;適合微小信號與超高動態範圍 常見 16~18 位,ENOB 15~17 位;需過採樣/平均提升
採樣速率 低~中速(10 SPS~幾 ksps) 中~高速(100 kSPS~MSPS)
轉換延遲 有數字濾波延遲(多週期) 幾乎無延遲
噪聲性能 過採樣 + 噪聲整形 → 極低輸入換算噪聲 量化噪聲受分辨率限制,需平均改善
線性與 THD INL/DNL 幾 LSB;THD 依賴前端驅動 高端 SAR 可達 ±1 LSB;對採樣瞬態敏感
功耗 低速高精度下省電 隨速率線性上升,中高速效率高
集成度 常集成 PGA/MUX/基準/温度傳感/濾波 集成度較低,需外部放大/參考
典型應用 温度/壓力/稱重/醫療監護等低頻高精度 DAQ/過程控制/多通道掃描/快速控制

結論:

  • 温度/壓力等緩變量:

    • 更新速率不高 → 優先 Σ-Δ ADC
  • 需兼顧中高速控制/響應:

    • 高分辨 SAR + 平均
    • 或 Σ-Δ + SAR 混合架構

六、精度影響因素與系統級對策

高精度不能只看單器件,需要鏈路級控制誤差源。

6.1 電阻匹配與增益誤差

INA 增益強依賴電阻比值,不匹配會導致:

  • 增益誤差
  • CMRR 下降 → 共模泄漏

對策:

  • 關鍵電阻做比值設計並芯片級修調
  • 外部關鍵增益電阻用薄膜/箔電阻

    • 0.01% 精度、±5 ppm/℃
  • PCB 緊湊對稱擺放避免熱梯度漂移

6.2 熱噪聲與 1/f 噪聲

系統噪聲 = 白噪聲(熱噪聲)+ 閃爍噪聲(1/f)

降噪策略:

  • 縮窄帶寬 B(熱噪聲 ~ √B)
  • 選低噪聲運放(<10 nV/√Hz)
  • 避免超大阻值電阻
  • 對 1/f 主導低頻:

    • 斬波/零漂技術最有效
    • 0.1–10 Hz 噪聲可壓到幾十 nV

6.3 偏置誤差與温漂

  • 輸入失調與偏置電流會引入 DC 誤差
  • 零漂放大器消除大部分電壓漂移
  • 偏置電流抑制:

    • CMOS 輸入級(pA 級)
    • 合理輸入阻抗

校準策略:

  • 上電自校:短輸入/切內部參考測零點並扣除
  • 温度自校:温度掃描做補償
  • 高端 Σ-Δ ADC 可做背景校準

6.4 電源噪聲與隔離

電源紋波通過有限 PSRR 進入鏈路,低頻下更致命。

對策:

  • 模擬/ADC 使用獨立低噪 LDO + RC/π 濾波
  • 模擬/數字分區供電與佈線
  • 星形接地 + 磁珠隔離
  • 患者側/系統側必要時做電氣隔離

6.5 線性失真與工作範圍

  • 放大器輸出避免逼近軌電壓
  • ADC 工作在指定線性區
  • 出廠多點標定可進一步消除殘餘 INL

6.6 温漂與長期穩定性

醫療設備需長期一致性:

  • 低漂基準(≤5 ppm/℃)
  • 年漂移小的 INA
  • 長壽命薄膜/箔電阻
  • PCB 避免應力集中與熱不對稱
  • 軟件預留零點/增益再標定接口

目標:鏈路誤差降到與 ADC 分辨率同量級,使滿量程誤差可控到 0.1% 甚至 0.01%(視校準策略)。


七、推薦架構與應用小結

面向醫療成像中的温度/壓力等低頻高精度測量,推薦如下鏈路:

傳感器 → 零漂 INA(多級前端) → 模擬低通/抗混疊 → 24 位 Σ-Δ ADC(帶 PGA/數字濾波) → 數字補償

典型配置:

  1. 前端 INA

    • 選零漂 INA
    • 增益 100~500×
    • 高 CMRR、低噪聲、低失調
  2. 濾波與工頻抑制

    • INA 後一階/二階低通
    • 截止設在數百 Hz
    • 依賴 Σ-Δ 數字濾波實現 50/60 Hz 陷波與過採樣
  3. 24 位 Σ-Δ ADC

    • 帶 PGA、MUX、基準、温度傳感
    • SPS 設 10~50,優先噪聲性能
    • 多通道實現:

      • 橋輸出 + 激勵同步比率
      • 熱電偶 + 冷端温度同步採集

在良好 PCB、電源與校準下,該方案可實現:

  • 噪聲自由分辨率 19~20 位
  • 温度分辨率 0.02 ℃ 甚至更優(取決於傳感器)
  • 壓力/温度綜合誤差 ~0.1% 級

八、工程落地與擴展

8.1 傳感器專用微調

  • 熱電偶:選帶冷端補償支持 ADC,簡化設計
  • 電橋壓力:多通道同步採橋輸出與激勵做比率測量
  • RTD:恆流源 + 比率測量 + 數字線性化 + 多點標定

8.2 PCB 與 EMC

  • 模擬前端獨立地參考與屏蔽
  • 傳感器差分輸入走線長度/路徑/環境完全對稱
  • 高速數字線遠離模擬區,必要時用地帶隔離

8.3 軟件與系統校準

  • 上電自動零點校準
  • 標準源週期性重標定增益與非線性
  • 温度/老化補償提高多年一致性

九、結語

通過對完整信號鏈進行系統級優化——從傳感器接口、電橋/恆流激勵、零漂 INA、多級濾波、採樣保持到 24 位 Σ-Δ ADC 的選擇與應用——可以在標準 CMOS 工藝平台上實現真正高精度的低頻模擬前端方案

該方案不僅能為醫療成像設備提供精準穩定的温度與壓力信息,提升圖像質量與診斷可靠性,也對其他高精度低頻測量(精密儀器、工業變送器、重量/位移傳感等)具有良好參考價值。

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